scieee AI-readable full text Open interactive document viewer

Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie

Ondřej, Man; Kolíbalová, Eva

Abstract

Electron microscopy basics. Elektronová mikroskopie je technika určená především pro získávání snímků s vysokým rozlišením pomocí urychleného elektronového paprsku k sondování zkoumaného vzorku. Po absolvování tohoto kurzu se seznámíte s pojmem rozlišení

Full text

Popis přihlášení k výstupu č. 25 – Kurz metrologie a analýzy defektů Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - Electron microscopy basics (pro NPO MŠMT a VUT v Brně) Licence CC BY-SA Pro kontrolu obsahu kurzů financovaných z projektu NPO je třeba se přihlásit do vzdělávací aplikace Moodle, kde byl zřízen manuální účet: https://cfmoodle.ceitec.vutbr.cz/login/index.php?saml=off username: npo heslo: NPOmsmt23. (pozor na tečku na konci) V rámci oblasti výstupu č. 25 - Kurz metrologie a analýzy defektů byl vytvořen speciální kurz „Electron microscopy basics“, který je v aplikaci Moodle umístěn v sekci „User section / General training – Microscopy – L1 Electron mikcoskopy basics“.